软件内置标准元素谱库与化学态参考数据库,完整覆盖 XPS 整套分析工作流:支持全谱扫描识别元素种类、高分辨窄谱分峰拟合、荷电校正、背景扣除、元素定量计算;可解析材料表层 1–10nm 范围内元素组成、化学价态、官能团信息。
核心功能:
- 仪器远程操控:直接联动 K-Alpha、Nexsa、ESCALAB Xi⁺等 XPS 设备,设置采样点位、深度溅射、面扫成像实验方案;
- 谱图处理:自动 / 手动分峰拟合、重叠峰剥离、化学位移标定、相对原子含量计算;
- 空间成像分析:元素面分布 mapping、区域回溯取谱、深度剖析曲线(溅射刻蚀逐层分析);
- 批量自动化:批量谱图处理、实验序列排队运行,内置模板一键生成分析报告;
- 数据导出:谱图、数据表格可导出图片、TXT、Excel 格式,直接用于学术论文与质检文档。
广泛应用催化材料、半导体、新能源电池、薄膜涂层、金属腐蚀、高分子材料、二维材料科研与工业失效分析。
更多详情及安装教程请访问:Avantage
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